賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series

更新時間：2024-11-06

產品型號：X-eye SF160F/N Series

簡要描述：賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現(xiàn)3次元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。

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詳細介紹

    賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/NSeries簡介：

    1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM：

    搭載高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能檢測設備，實現(xiàn)高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用戶可通過需求選擇DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)實現(xiàn)3次元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。

    2.X-raySimple&Easy3DCT：

    1).半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備（大型PCB可進行非破壞性CT分析）

    2).可搭載Option自動檢測S/W，通過手動裝料后的自動檢測，可實現(xiàn)產品全檢

    3).最大可實現(xiàn)550x650mm尺寸的產品不良檢測

    4).通過DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D檢測，提供高分辨率，高精度的分析檢測環(huán)境

    5).可搭載長壽命Filament，利于用戶使用便利性（可適用于量產檢測）